李斯特高精度涂鍍層測(cè)厚儀MEGA-CHECK DX

您可以將許多專用數(shù)字探頭連接到 List-Magnetik MEGA-CHECK DX 涂層測(cè)厚儀。 因此，可以毫無(wú)問題地應(yīng)用于特別小的開口、厚層和小測(cè)量點(diǎn)。特殊功能，如粗糙表面的掃描測(cè)量和鍍鋅和附加涂層鋼的雙相測(cè)量，完善了服務(wù)范圍。

在涂層厚度測(cè)量中實(shí)現(xiàn)wu故障和精確的測(cè)量

全新開發(fā)的數(shù)字探頭技術(shù)由于其高采樣率而可實(shí)現(xiàn)非常穩(wěn)定的測(cè)量。為了實(shí)現(xiàn)絕對(duì)無(wú)干擾和精確的測(cè)量，信號(hào)已經(jīng)在探頭中進(jìn)行了數(shù)字化處理。這導(dǎo)致了非常準(zhǔn)確、可重復(fù)的測(cè)量。

用于涂層測(cè)厚儀的各種探頭

在 List-Magnetik，您可以找到用于 FE 金屬（鐵和鋼）和 NF 金屬（有色金屬，如鋁、黃銅、銅、青銅和非磁性不銹鋼）的各種探頭，以及具有基材自動(dòng)檢測(cè)功能的組合探頭。

測(cè)量各種層的層厚

磁感應(yīng)法可以測(cè)量鋼上的油漆、油漆、塑料、橡膠、陶瓷、鍍鋅和電鍍涂層。使用渦流法，您可以測(cè)量 NF 金屬上的絕緣層（油漆、清漆、塑料、陽(yáng)極氧化）。

圖形顯示

涂層測(cè)厚儀有一個(gè)圖形 LCD 觸摸屏，具有創(chuàng)新的用戶界面，分辨率為 320x480 像素。藍(lán)色硅膠框架有效保護(hù)外殼免受損壞。

內(nèi)存和接口

借助可靈活分割的測(cè)量值存儲(chǔ)器、可自由定義的校準(zhǔn)存儲(chǔ)器以及與 Windows、Android 或 iOS 的低功耗藍(lán)牙接口，您可以記錄和處理測(cè)量值。

遠(yuǎn)程控制測(cè)量

設(shè)備上實(shí)現(xiàn)了 SCPI 接口，允許設(shè)備遠(yuǎn)程執(zhí)行測(cè)量并在在線作中提供測(cè)量值。通過 USB 連接，同時(shí)確保電源和連續(xù)運(yùn)行。

特殊功能：掃描、雙面打印

掃描功能允許在粗糙表面上掃描工件并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估。額外的模擬顯示屏補(bǔ)充了測(cè)量值的可視化，以便從眼角識(shí)別趨勢(shì)和峰值。

在測(cè)量鍍鋅鋼部件的絕緣層時(shí)，雙工功能可同時(shí)記錄單層厚度。

MEGA-CHECK DX涂層測(cè)厚儀

使用兩種測(cè)量技術(shù)來(lái)測(cè)量金屬底材上的涂層的厚度。

首先，磁感應(yīng)，即當(dāng)基底是磁性（鋼或鐵）時(shí)，其次，電渦流法，即當(dāng)?shù)撞氖欠谴判越饘俚模ㄆ渌饘?，如鋁）時(shí)。多種探頭可選擇。您可以將許多專用探針連接到List Magnetik MEGA-CHECK DX涂層測(cè)厚儀。

一種全新開發(fā)的探針技術(shù)，由于其高采樣率，可以進(jìn)行非常穩(wěn)定的測(cè)量。對(duì)于無(wú)干擾和的測(cè)量，信號(hào)已經(jīng)在探頭中數(shù)字化。測(cè)量非常準(zhǔn)確、可重復(fù)測(cè)量。

測(cè)量探頭

其他的性能概括如下：  
□粗表面的掃查功能，探頭在表面掃查時(shí)，儀器以20個(gè)數(shù)據(jù)/秒的速度自動(dòng)采集，并顯示平均值。
□LCD圖形顯示?！蹼p值顯示鍍層和它上面的涂層(涂層/非鐵鍍層/鐵基母材)。
□新開發(fā)的鐵基探頭(磁感應(yīng))，非鐵基探頭(渦流)和同時(shí)適用于兩種基體的雙功能探頭提供了探頭的廣泛選擇范圍。
□微型探頭可在小到直徑1.5mm的區(qū)域上測(cè)量。
□特殊探頭可在90°范圍內(nèi)擺動(dòng)，可用于測(cè)量?jī)?nèi)孔表面和一些直探頭難于接近的場(chǎng)合。
采用磁感應(yīng)測(cè)量法可以測(cè)量所有鋼鐵基體上的涂鍍層(如油漆、涂料、塑料、橡膠、搪瓷、陶瓷和鋁，錫、黃銅、青銅等電鍍層)。
采用渦流法可以測(cè)量非鐵金屬基體上的(如鋁、黃銅、青銅、銅、錫和非磁性不銹鋼V2A-V4A)上的絕緣層。

李斯特高精度涂鍍層測(cè)厚儀MEGA-CHECK DX